《GB/T 4937.23-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于評估半導體器件在高溫工作條件下的壽命和可靠性。該標準主要描述了高溫工作壽命試驗的方法和要求。
一、范圍：
GB/T 4937的本部分用來確定偏置條件和溫度對固態器件隨時間的影響。本部分模擬器件在加速試驗條件下工作，主要用于鑒定和可靠性檢驗。
電老煉是一種短期高溫偏置壽命試驗，用于篩查相關的早期失效。電老煉的詳細使用和應用范疇不屬于本部分范疇。
二、試驗項目：
高溫試驗。
三、試驗設備：
高溫試驗箱。
.jpg "《GB/T 4937.23-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命》標準(圖1)")
四、文檔獲取：
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五、試驗程序（部分）：
1. 應力條件
應對器件持續施加應力條件（臨時測試除外)。實驗室升溫以達到加速壽命條件、實驗室降溫以達到室內條件和進行臨時測試等均不能視為總指定試驗時間的一部分。
2. 環境溫度
除另有規定外，工作環境溫度和高溫應力的偏置條件應做調整，以維持在所需的溫度應力范圍。本試驗條件典型值為結溫125℃，時間1000 h。除另有規定外，低溫應力環境溫度最大為-10 ℃。
3. 工作電壓
除另有規定外，試驗的工作電壓應是器件指定的最大規定電壓，達不到5.2.1中的條件除外。為達到加速壽命的目的，加壓和升溫具有一樣的效果，因此可以使用更高的電壓;但該電壓不能超出器件所允許的最大額定電壓，并且該電壓應獲得器件制造商的認可。
通過高溫工作壽命試驗，可以評估半導體器件在長時間高溫工作下的性能穩定性和可靠性，為器件的設計、制造和使用提供參考依據。試驗結果可以用于判斷器件的壽命預測、產品質量控制以及可靠性改進等方面。
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