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模擬高原氣候試驗(yàn)室設(shè)計(jì)
2024-11-06
西部地區(qū)對電子電工產(chǎn)品的需求逐漸增大,但由于我國西部地區(qū)大多屬于高原氣候環(huán)境,對電工產(chǎn)品有特殊要求,需要對電工產(chǎn)品進(jìn)行高原環(huán)境適應(yīng)性、可靠性驗(yàn)證及檢測工作,就目…
高溫低溫高度試驗(yàn)箱在電子器件中的應(yīng)用
2024-11-05
我們都知道,海拔越高,氣壓越低。而一些在高海拔和飛行器上工作的器件,在低氣壓環(huán)境下,比在平地環(huán)境下更容易失效。氣壓變低,一方面會使器件周圍空氣的散熱能力降低,另…
整車高原海拔氣候倉的應(yīng)用
2024-11-05
高原海拔氣候環(huán)境首先為低氣壓環(huán)境,其次會受到雨雪、高低溫等方面的影響。因此,汽車整車在高原環(huán)境比在平原會惡劣很多,所以,我們需要使用整車高原海拔氣候倉來模擬高原…
Flash/eMMC存儲熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的技術(shù)要求
2024-11-05
隨著電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,尤其是在移動通信、計(jì)算機(jī)、智能家居等領(lǐng)域,閃存芯片(如NAND Flash)在數(shù)據(jù)存儲中的重要性日益增加。為了確保這些閃存芯片在極端環(huán)境…
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
存儲芯片高低溫?zé)釠_擊設(shè)備的測試要求
2024-11-05
在存儲芯片的生產(chǎn)制造過程中,需要進(jìn)行各種可靠性試驗(yàn),其中高低溫沖擊試驗(yàn)就是一項(xiàng)重要的測試項(xiàng)目,下面,我們結(jié)合實(shí)際測試要求,來看看存儲芯片的高低溫?zé)釠_擊試驗(yàn)是怎么…
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
閃存芯片高低溫沖擊試驗(yàn)箱
2024-11-05
閃存芯片高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要檢查材料是否能承受快速的溫度變化。有些轉(zhuǎn)變?nèi)鐝母邷氐降蜏兀缓螅瑥牡蜏氐礁邷亍_@些突然的變化會導(dǎo)致應(yīng)力和損壞,如裂縫或斷裂,要目標(biāo)是…
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
高低溫高度試驗(yàn)箱的實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/div>
2024-11-04
我們?nèi)粘I钤谡4髿猸h(huán)境下,產(chǎn)品的故障率會比高海拔地區(qū)的故障率低。為了檢測高海拔地區(qū)產(chǎn)品的故障率,我們需要用到高低溫高度試驗(yàn)箱(高低溫低氣壓試驗(yàn)箱),通過多產(chǎn)…
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)
2024-11-04
整車環(huán)境艙是用于汽車整車性能測試的設(shè)備,其包含多種系統(tǒng)和功能以模擬真實(shí)的行駛環(huán)境。其中,陽光模擬系統(tǒng)是用于模擬陽光照射的設(shè)備,可以控制光照強(qiáng)度、光照角度等參數(shù),…
Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱的測試方法
2024-11-04
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長與擦寫次數(shù)為怎樣的關(guān)系,目前尚未有實(shí)際實(shí)物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱,通過FLASH芯片壽命試驗(yàn),在地…
高低溫試驗(yàn)箱
NAND Flash高低溫篩選試驗(yàn)機(jī)在Flash的溫變規(guī)律研究
2024-11-04
為了研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律,評估其空間應(yīng)用的可行性,為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)和改進(jìn)建議。在溫變規(guī)律研…
高低溫試驗(yàn)箱
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