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國家標準:GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
2025-04-10
《GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于半導體器件的機械…
國家標準
國家標準:JB/T 12064-2014 高海拔環境絕緣子覆冰（雪）人工模擬方法
2025-04-10
JB/T 12064-2014是中國國家標準，題為"高海拔環境絕緣子覆冰（雪）人工模擬方法"（Artificial Simulation M…
國家標準
國家標準:GB/T 4585-2004 交流系統用高壓絕緣子的人工污穢試驗
2025-04-10
GB/T 4585-2004是中國國家標準，題為"交流系統用高壓絕緣子的人工污穢試驗"（Artificial Polluted Test f…
國家標準
國家標準:DL/T 2389-2021 覆冰地區架空輸電線路絕緣子選用導則
2025-04-10
DL/T 859-2015是中國電力公司標準，題為"高壓交流系統用復合絕緣子人工污穢試驗"（Artificial Polluted Test…
國家標準
國家標準:GB/T 4937.4-2012 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）
2025-04-10
《GB/T 4937.4-2012 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST）》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于評估半導體器…
國家標準
國家標準:GB/T 4937.13-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分：鹽霧
2025-04-09
《GB/T 4937.13-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分：鹽霧》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于評估半導體器件在鹽霧環境下的耐蝕性…
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國家標準:GB/T 4937.2-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓
2025-04-09
《GB/T 4937.2-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于評估半導體器件在低氣壓環境下的可靠性…
國家標準
國家標準:GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動
2025-04-09
《GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于評估半導體器件在振動環境下的可…
國家標準
國家標準:GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存
2025-04-09
《GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存》是中國國家標準化委員會發布的標準，用于評估半導體器件在溫濕度貯存條…
國家標準
國家標準:GB/T 36357-2018 中功率半導體發光二極管芯片技術規范
2025-04-09
GB/T 36357-2018是中國國家標準中功率半導體發光二極管（LED）芯片技術規范的代號。該標準是由中國國家標準化管理委員會（SAC）發布的，它規定了中功…
國家標準
國家標準:SJ 20874-2003 表面安裝集成電路試驗用插座通用規范
2025-04-08
SJ 20874-2003是中國電子行業軍用標準，它規定了表面安裝集成電路試驗用插座在應力試驗中的測試程序和要求。該標準的目的是評估表面安裝集成電路試驗用插座工…
國家標準
國家標準:SJ 20875-2003 扁平封裝集成電路插座通用規范
2025-04-08
SJ 20875-2003是中國電子行業軍用標準，它規定了扁平封裝集成電路插座在應力試驗中的測試程序和要求。該標準的目的是評估扁平封裝集成電路插座工作環境下的可…
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