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貨運(yùn)無人機(jī)系統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-25
無人機(jī)在從出廠到退役的壽命周期內(nèi)，不可避免的要受到溫度的影響，貨運(yùn)無人機(jī)系統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱則可以模擬無人機(jī)使用過程中的溫度，從而判斷無人機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性，由于每臺(tái)機(jī)…
高低溫試驗(yàn)箱
高低溫試驗(yàn)室
2024-11-14
我們的高低溫試驗(yàn)室覆蓋容積從4m3到260m3，溫度范圍從-70℃到+200℃（250℃），相對(duì)濕度從10%R.H.到98%R.H.，控制器從微芯片LED顯示器…
高低溫試驗(yàn)箱
Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱的測試方法
2024-11-04
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長與擦寫次數(shù)為怎樣的關(guān)系，目前尚未有實(shí)際實(shí)物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱，通過FLASH芯片壽命試驗(yàn)，在地…
高低溫試驗(yàn)箱
NAND Flash高低溫篩選試驗(yàn)機(jī)在Flash的溫變規(guī)律研究
2024-11-04
為了研究Flash存儲(chǔ)器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評(píng)估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號(hào)任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)和改進(jìn)建議。在溫變規(guī)律研…
高低溫試驗(yàn)箱
Flash高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-04
Flash高低溫試驗(yàn)箱可用于研究Flash存儲(chǔ)器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評(píng)估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號(hào)任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)…
高低溫試驗(yàn)箱
EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱的技術(shù)方案
2024-11-01
EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱可針對(duì)NAND Flash、UFS芯片進(jìn)行高速、高低溫度范圍的全功能動(dòng)態(tài)老化測試。針對(duì)集成NAND和Controller的模組芯片（例如…
高低溫試驗(yàn)箱
eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測試方法
2024-11-01
eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱可對(duì)eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤…
高低溫試驗(yàn)箱
eMMC高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-01
eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專門針對(duì)eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲(chǔ)芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時(shí)支持大批量芯片同步老化測試，腔體…
高低溫試驗(yàn)箱
光電器件高低溫特性試驗(yàn)箱的實(shí)際應(yīng)用
2024-10-21
很多光電器件必須長時(shí)間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴(yán)重。針對(duì)電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化…
高低溫試驗(yàn)箱
光電產(chǎn)品高低溫生命期實(shí)驗(yàn)箱的試驗(yàn)流程
2024-10-21
針對(duì)光電產(chǎn)品開展高低溫循環(huán)試驗(yàn)。試驗(yàn)過程中每間隔一定的循環(huán)次數(shù)，對(duì)器件進(jìn)行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數(shù)的測試和分析。高低溫循環(huán)試驗(yàn)需確定以下試驗(yàn)參數(shù)…
高低溫試驗(yàn)箱
光電器件高低溫操作生命期試驗(yàn)箱
2024-10-21
光電子器件包括光探測器、激光器等，應(yīng)用在非常廣泛的領(lǐng)域。由于不同器件應(yīng)用的環(huán)境溫度范圍不同，因而對(duì)電器件在不同溫度下的各種光電參數(shù)有不同的要求。所以在器件的制備…
高低溫試驗(yàn)箱
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