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PCIE M.2老化測試板一拖八，專業(yè)用于NVME盤常溫到高溫帶電測試。
| 功能介紹 | |
| 測試產(chǎn)品通道數(shù)量 | 8 Port |
| 接口 | M.2,NVME,U.2,U.3,AIC |
| 測試項目 | 常溫到高溫帶電測試 |
| 供電電壓DC12V | |
| 環(huán)境溫度 | -10 ~ 80（誤差+/-2%） |
| 可擴(kuò)展測試項目 | 監(jiān)控每通道電壓，電流 |
| 監(jiān)控每通道產(chǎn)品功耗 | |
| 時鐘延時 | |
| 復(fù)位測試 | |
