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元器件的組裝越復(fù)雜，越需要更多的試驗(yàn)來驗(yàn)證可靠性。其中，環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）就是其中的一個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目，環(huán)境應(yīng)力篩選用到的試驗(yàn)設(shè)備為快速升降溫試驗(yàn)箱。
在環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)、老化試驗(yàn)、初始功能試驗(yàn)或在初期使用過程中，主要由于不充分的性能或生產(chǎn)工藝而導(dǎo)致的失效。
.jpg "快速升降溫試驗(yàn)箱在表面貼裝電子元器件產(chǎn)品中的應(yīng)用(圖1)")
為什么表面貼裝 電子元器件要做應(yīng)力篩選？
篩選過程利用由環(huán)境產(chǎn)生的應(yīng)力，使組裝件中“薄弱的”元器件的應(yīng)力超限達(dá)到失效點(diǎn)，防止這些潛在缺陷在現(xiàn)場使用中出現(xiàn)，引起現(xiàn)場失效。產(chǎn)生這些應(yīng)力的環(huán)境可能或不可能與產(chǎn)品使用環(huán)境條件有關(guān)。
一旦出現(xiàn)失效，元器件就會(huì)被檢測出來并被維修、替換、報(bào)廢，或?yàn)槲磥懋a(chǎn)品重新設(shè)計(jì)。ESS必須在不損壞“正常的”元器件的情況下進(jìn)行。ESS不是加速可靠性試驗(yàn)。
環(huán)境應(yīng)力篩選的主要設(shè)備：
1.快速升降溫試驗(yàn)箱/快速溫度變化試驗(yàn)箱
2.設(shè)備型號(hào)：HYQT系列
3.設(shè)備品牌：環(huán)儀儀器
4.升降溫速率的選擇：5℃/min、10℃/min、15℃/min
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