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led高溫老化實驗裝置對封裝LED的壽命評估方法

文章出處 : 技術(shù)知識 文章編輯 : 環(huán)儀儀器 閱讀量 : 發(fā)表時間 : 2025-06-05

LED燈珠在封裝完成后都需要進行可靠性實驗來驗證其性能能否具備,在評估LED燈珠性能時,壽命測試是其重要的環(huán)節(jié)。為了經(jīng)濟快速的評估其壽命極限,我們設(shè)計了一種加速壽命評估方法來對 COB 封裝的 LED 進行壽命評估,以下是主要試驗內(nèi)容。

試驗設(shè)備:環(huán)儀儀器 led高溫老化實驗裝置

led高溫老化實驗裝置對封裝LED的壽命評估方法(圖1)

試驗設(shè)計:該器件采用陶瓷基板和硅膠封裝,其額定驅(qū)動電流為120mA,額定功率 1W,光通量典型值為 130lm,色溫 3000K。

加速壽命試驗:

從測試合格的樣品中隨機抽取8只進行恒定溫度應(yīng)力的加速壽命試驗。選用恒流供電,If=120mA,led高溫老化實驗裝置溫度為165℃,加速工作時間為 500h,測試時間間隔為 20h、50h、100h、200h、500h。下表給出了 165℃加速應(yīng)力下的8只樣品的平均光通量隨時間的衰減變化量。

led高溫老化實驗裝置對封裝LED的壽命評估方法(圖2)

試驗數(shù)據(jù)處理:

1.樣品在試驗溫度應(yīng)力下,光通維持率至 70% 時的加速壽命

以光通量衰減(Pt/P0)為縱坐標(biāo),以試驗時間為橫坐標(biāo),描點劃線,可得結(jié)溫為 182℃下的擬合曲線如下圖示。通過延長擬合曲線,可以外推得到結(jié)溫為 182℃下光通量衰減到初始值 70% 的時間,即平均光通維持壽命為3950h。

led高溫老化實驗裝置對封裝LED的壽命評估方法(圖3)

2.樣品工作在結(jié)溫 80℃下的平均光通維持壽命

利用 3.1 得到的加速試驗壽命和結(jié)溫數(shù)據(jù),按激活能0.42eV 的水平可以計算出結(jié)溫 80℃下的光通維持壽命值。預(yù)測得出該 LED 在結(jié)溫 80℃,光通量衰減到 70% 時的平均光通維持壽命為 79000h。

以上即是對對封裝LED的壽命評估方法,如有試驗疑問,可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。



文章標(biāo)簽 : led高溫老化試驗箱

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