光電模塊是一個整體集合，其中包含許多電子元器件，其中以LED最為重要，是光電模塊工作的核心器件。光電模塊在高溫下進行加速壽命試驗必須確定一系列的參數，包括(但不限于)：試驗持續時間、樣本數量、試驗目的、要求的置信度、需求的精度、費用、加速因子、外場H環境H、試驗環境、加速因子計算、威布爾分布斜率或β參數(β＜1表示早期故障，β＞1表示耗損故障)。
下面，我們來看看光電模塊的高溫存儲壽命試驗。
光電模塊高溫存儲壽命性能測試：
試驗設備：環儀儀器 高溫儲存壽命實驗箱
確定加速因子：
1、現有模型，現有模型有：Arrhenius模型、Coffin2Manson模型和Norris2Lanzberg模型等，使用現有模型比用試驗方法來確定加速因子節省時間，并且所需樣本少，但不是很精確，且模型變量的賦值較復雜；
2、通過試驗確定的模型(需要大量試驗樣本和時間)，若沒有合適的加速模型，就需要通過試驗導出加速因子，先將樣本分成3個應力級別：高應力、中應力、低應力，定試驗計劃確保在每一個應力級別上產生相同的失效機理，這是確定加速因子較精確的方法，但需要較長的時間和較多樣本。
測試過程：
1.采用總線多路復用器接收內部測試板的輸出信號，總線多路復用器是一種綜合系統，通常包含一定數目的數據輸入，n個地址輸入，以二進制形式選擇一種數據輸入，總線多路復用器有一個單獨的輸出，與選擇的數據輸入值相同，用于中等密度的自動化測試系統。
2.在自動測試系統中配合臺式數字萬用表、信號發生器等各種測試儀器，實現在計算機控制系統中的自動化測試，擴展儀器測試通道，DSP接收到內部測試板輸出的發送光功率、接收光功率、溫度、SFP工作溫度、SFP工作電流這五個信號，并對這五個信號進行處理，由串口轉換器輸出。
3.直接對整個光電模塊進行加溫實驗，采集光電模塊的5個關鍵參數在溫度變化下的采樣數據，對采樣數據利用阿倫尼斯模型進行計算，從而評估光電模塊在正常情況下的壽命；避免了以LED的壽命來作為光電模塊壽命的不準確性，且不需要剝離出LED即可進行測試，方便實驗的成規模應用；
以上就是光電模塊高溫存儲壽命性能測試講解，如對試驗有疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
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