JESD22高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。

相關(guān)實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.40、IEC60068-2-66、IEC 60749-4、IEC62506、JESD22-A102E、JESD22-A110E、JESD22-A118B、JEITA ED-4701/100A、AEC-Q100-Rev-H

技術(shù)參數(shù)：

試驗(yàn)要求說(shuō)明：

1.JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，和元件加偏壓的時(shí)間

常用測(cè)試條件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h

2.JESD22-A110 ：HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h

3.JESD22-A118：溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和時(shí)間

常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）樣品數(shù)25ea/lot，3lots

4. JESD22-A102-E：PCT高壓蒸煮試驗(yàn)

5. JESD22-A102-D：PCT無(wú)偏壓高壓加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和持續(xù)時(shí)間

常用測(cè)試條件：121℃±2/100%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h

如有JESD22高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱的選型疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。