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高壓蒸煮試驗(yàn)箱用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，從而判斷樣品的抗?jié)駸嵝阅堋?/p>
測試方法：
IEC 60068-2-66 (1994-6)環(huán)境試驗(yàn)。第 2 部分：試驗(yàn)方法-試驗(yàn) Cx；濕熱，穩(wěn)態(tài)（非飽和加壓蒸汽）。
IEC 60749 修正案1（1991-11）半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 5C 濕熱，穩(wěn)態(tài)高加速。
JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)(1988-6) No.22-110 測試方法 A110 高加速溫度和濕度應(yīng)力測試 (HAST)。
EIAJ（日本電子工業(yè)協(xié)會(huì)）ED-4701（1992-2）（日本）半導(dǎo)體器件的環(huán)境和持續(xù)時(shí)間測試方法方法 B-123 不飽和蒸汽壓力測試。
技術(shù)參數(shù)：
測試原理：
1.PCT: 壓力鍋測試
通常所說的PCT 測試是指100%相對(duì)濕度的飽和蒸汽測試。
2.HAST: 高加速壽命測試
通常是指相對(duì)濕度為85%的非飽和蒸汽測試。
結(jié)構(gòu)特征：
外箱：構(gòu)成試驗(yàn)箱的主體，提供結(jié)構(gòu)支撐和隔熱效果。
箱內(nèi)膽：設(shè)置于外箱底部，負(fù)責(zé)承載樣品并與試驗(yàn)環(huán)境直接接觸。
水箱：位于外箱和箱內(nèi)膽之間，提供必要的水源以維持試驗(yàn)環(huán)境中的濕度。
進(jìn)水口：與水箱連通，自動(dòng)化地控制水的補(bǔ)充。
控制面板：設(shè)置在外箱上，方便操作人員實(shí)時(shí)監(jiān)控和調(diào)整試驗(yàn)參數(shù)，包括溫度、濕度、壓力等。
如有高壓蒸煮試驗(yàn)箱的測試和選型疑問，可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
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